星云手機(jī)數(shù)碼鋰電池組保護(hù)板測(cè)試系統(tǒng)BAT-NEDQ-04-V010
特點(diǎn)
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測(cè)試精度高， 測(cè)試速度快 |
模塊化設(shè)計(jì)，便于維修更換 |
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兼容Gas Gauge IC種類多，適用的IC包含美國(guó)TI公司系列管理IC（如: BQ27742 、BQ277410 、BQ28z610、 BQ27541、BQ 27545、BQ2753X系列管理IC） |
測(cè)試項(xiàng)目全，實(shí)現(xiàn)一站式測(cè)試 |
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測(cè)試精度高， 測(cè)試速度快 |
菜單式軟件編程，操作方便 |
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規(guī)格
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型號(hào) |
BAT-NEDQ04-V010 |
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指標(biāo) |
范圍 |
精度 |
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模擬電池輸出電壓 |
5~5000mV |
±0.2mV |
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模擬電池輸出電流 |
0~3000mA |
±（0.01%R.D.+0.05%F.S.） |
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充電器輸出/測(cè)量電壓 |
100-~5000mV |
±（0.01%R.D.+0.01%F.S.） |
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5000~10000mV |
±（0.01%R.D.+0.02%F.S.） |
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充電器輸出/測(cè)量電流 |
5~3000mA |
±（0.01%R.D.+0.01%F.S.） |
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模擬電池輸出電壓測(cè)量 |
50~1000mV |
±0.2mV |
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模擬電池電流測(cè)量（消耗電流測(cè)量） |
（mA檔）0~3000mA |
±0.01% R.D.+0.05%F.S. |
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（uA檔）1~2000uA |
±0.01% R.D.+1uA |
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（nA檔）1~1000nA |
±0.01%R.D. +5nA |
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PACK電壓測(cè)量 |
0~10000mV |
±（0.01%R.D.+0.01%F.S.） |
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測(cè)試項(xiàng)目 |
管理IC通訊測(cè)試、HDQ/Battery 電壓測(cè)試、空載/帶載電壓測(cè)試、靜態(tài)消耗電流測(cè)試、導(dǎo)通/識(shí)別/熱敏電阻測(cè)試、PACK過壓1過放測(cè)試、單節(jié)電池過壓/過放測(cè)試、充/放電過溫保護(hù)測(cè)試、充/放電過流1保護(hù)測(cè)試、充/放電過流2保護(hù)測(cè)試、短路保護(hù)測(cè)試、失效性保護(hù)測(cè)試、欠壓/低溫預(yù)充測(cè)試、GAS GAUGE IC過壓二次保護(hù)測(cè)試、二次保護(hù)IC保護(hù)測(cè)試、電容測(cè)量（純電容）、零歐電阻測(cè)量 |
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